半导体集成电路(IC)测试技术实践

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半导体集成电路的测试是 IC 生产厂家，检测机构，IC 应用单位必须完成的一项工作任务，以判定出厂产品、被检定产品和上机应用的产品是满足质量要求的器件。怎样按国家有关标准要求，按产品详细规范参数和功能要求以及用户的要求，利用本单位现有的测试资源（人，机，环境，信息库，协作单位等），解决 IC 测试工作中实际出现的问题，以得出被测 IC 的合格与否的恰当结论，是我们 IC测试检验技术人员应该具有的能力。2 测试技术
测试技术包括的内容很广，因篇幅所限，这里只讨论一下要用到的测试技术种类和简要说明。测试技术应包括测试技术理论、测试技术实践，同时还包括测试技术资源。有关理论的掌握应学习大学课程和收集资料技术完成，测试技术实践要经过多年的经验积累，测试技术资源包括技术操作人员、产品标准、产品技术应用手册、产品标准样管、测试设备系统（计算机系统、采样示波器等）、测试环境（包括符合国家要求认证的质量管理体系等）和计量标准技术支持手段等。在具有一定测试技术条件时，我们重点要利用测试技术解决测试实践中遇到的实际问题。
2.1 筛选测试与检验测试
筛选测试与检验测试一般由生产厂家进行。
筛选测试是利用测试技术对生产线上的半成品、成品进行确定产品等级(电性能参数分档和质量等级分类)，剔除不合格品的测试，测试程度是逐批 100%测试，往往在筛选试验项目之后进行，并根据测试数据确定 PDA 计算结果判定批次合格。检验测试包括入厂材料（裸芯片）测试和对筛选合格后的成品进行的质量一致性检验（一般为 A组）。
检验测试一般采用抽样测试，抽样方案按 LTPD方法或 AQL 方法。如 LTPD=10，抽样数和判定数为 22（0）。检验测试往往与质量一致性检验试验项目、机械环境试验结合进行。在生产厂家测试设备技术不够用时，往往需要把产品送交有检测资质的院、所等检测、鉴定、计量机构进行筛选或检验。