磁粉检测

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1.1 發展歷史
磁粒檢驗(MagneticParticleTest)或稱為磁粉檢驗，簡稱為MT，為-種非破壞檢驗方法;1928年末由A.V.DeForest首先使用，但由於效果不佳，並沒有引起廣泛的注意，直到1934年美國Magnaflux公司從事有關磁粒的研究以及交流電之應用，磁粒檢驗才又重新受到大眾的注目。I930至I940這十年間可算是磁粒檢驗蓬勃發展的階段，至今仍廣受使用。目前，磁粒檢驗已進入自動化的時代了，由於磁粒的改善加上電腦的配合使用，使得檢驗人員只要坐在控制室內接鈕接可獲得永久性記錄的檢驗結果。
1.2 簡 介
磁粒檢驗係藉由磁力線在物件內分佈的情況，吸引表面磁粒(MagneticParticle)形成顯示(Indication)，能迅速、有效地檢驗物件表面及次表面瑕疵，其原理非常簡單，並不需要高深的學問與技術，檢驗結果又能直接顯示在物件的表面，易為-般人所接受和學習