- GB/T 7340-1987 电子设备用固定电阻器 第六部分 空白详细规范 阻值和功耗不同 各电阻器可单独测量的固定电阻网络 评定 (204.57K)
- DL/T 845.3-2019 电阻测量装置通用技术条件 第3部分:直流电阻测试仪 (6.87MB)
- DL/T 845.4-2019 电阻测量装置通用技术条件 第4部分:回路电阻测试仪 (7.37MB)
- JB/T 5264-1991 间接电阻炉 RF系列强迫对流井式电阻炉 (481.50K)
- JB/T 2664.1-1999 调压器用炭电阻片柱 自动电压调整器用炭电阻片柱 (143.69K)
- GB/T 1410-2006 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 (478.95K)
- DL/T 845.3-2004 电阻测量装置通用技术条件 第3部分 直流电阻测试仪 (255.33K)
- DL/T 845.4-2004 电阻测量装置通用技术条件 第4部分 回路电阻测试仪 (472.50K)
- DL/T 845.3-2004 电阻测量装置通用技术条件 第3部分:直流电阻测试仪 (262.23K)
- GB/T 34499.2-2017 铱化合物化学分析方法 第2部分:银、金、铂、钯、铑、钌、铝、铜、铁、镍、 铅、镁、锰、锡、锌、钙、钠、钾、硅的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 (631.98K)
- YS/T 938.4-2013 齿科烤瓷修复用金基和钯基合金化学分析方法 第4部分:金、铂、钯、铜、锡、铟、锌、镓、铍、铁、锰、锂量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 (4.70M)
- JB/T 4311.5-2002 间接电阻炉RJ系列自然对流井式电阻炉 (322.21K)
- JB/T 4311.10-1991 间接电阻炉 SG系列实验用坩埚式电阻炉 (250.22K)
- DL/T 845.4-2004电阻测量装置通用技术条件 第4部分:叫路电阻测试仪 (214.90K)
- GB/T 12277-1990 电子设备用固定电阻器 第七部分:空白详细规范:各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平 E (可供认证用) (273.58K)
- JIS C5201-9-1-2006 电子设备用固定电阻器.第9-1部分:空白详细规范各电阻器可单独测量的表面安装固定电阻网络.评定级别EZ (334.90K)
- JIS C5201-6-1-1999 电子设备用固定电阻器.第6部分:空白详细规范.带有独立可测量电阻的固定电阻网络.等值和等耗散评估等级E (234.52K)
- GB/T 10581-1989 固体绝缘材料在高温下绝缘电阻和体积电阻率的试验方法 (158.15K)
- DL/T 845.1-2004 电阻测量装置通用技术条件 第1部分 电子式绝缘电阻表 (654.11K)
- DL/T 845.2-2004 电阻测量装置通用技术条件 第2部分 工频接地电阻测试仪 (397.78K)
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