- GB 12085.16-1995 光学和光学仪器 环境试验方法 弹跳或恒加速与高温、低温综合试验 (379.28K)
- SC/T 7002.2-2016 渔船用电子设备环境试验条件和方法高温 (1.11M)
- GB/T 2423.102-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)低气压 振动(正弦)综合 (923.14K)
- GB 12085.15-1995 光学和光学仪器 环境试验方法 宽带随机振动(中再现性)与高温、低温综合试验 (433.38K)
- GB/T 12085.21-2011 光学和光学仪器 环境试验方法 第21部分:低压与大气温度、高温综合试验 (89.22K)
- GB/T 12085.10-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验 (766.18K)
- GB/T 2423-36-2005 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法 试验ZBFc 散热和非散热试验样品的高温振动(正弦)综合试验 (233.30K)
- GB 12085.10-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 综合振动(正弦)与高温、低温 (126.70K)
- GB/T 2423.59-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合 (5.43M)
- GB/T 12085.2-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热 (847.57K)
- GB/T 12085.15-2010 光学和光学仪器环境试验方法第15部分:宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验 (951.33K)
- GB/T 12085.13-2010 光学和光学仪器环境试验方法第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验 (875.62K)
- GB 12085.13-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温 (125.60K)
- GB/T 12085.16-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验 (913.93K)
- 高温环境试验箱SolidWorks设计 (29.01M)
- 高温环境试验箱三维模型SolidWorks设计 (29.01M)
- GB/T 2424.1-2005 电工电子产品环境试验 高温低温试验导则 (1.36M)
- GB/T 2424.1-2015 环境试验 第3部分:支持文件及导则 低温和高温试验 (998.55K)
- GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 (207.09K)
- GB/T 2424.22-1986 电工电子产品基本环境试验规程 温度(低温、高温)和振动(正弦)综合试验导则 (125.73K)
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