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YD/T 3037.2-2016 通用集成电路卡(UICC)与终端间USB接口特性测试方法 第2部分:UICC

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  • 发布时间:2019-12-02
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YD/T 3037.2-2016 通用集成电路卡(UICC)与终端间USB接口特性测试方法 第2部分:UICC YDT 3037.2-2016 通用集成电路卡(UICC)与终端间USB接口特性测试方法 第2部分:UICC.pdf(19.42MB)

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