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- SJ 1472-79 3CG110型PNP硅外延平面高频小功率三极管 (117.48K)
- SJ 1473-79 3CG111型PNP硅外延平面高频小功率三极管 (392.22K)
- SJ 1474-79 3CG112型PNP硅外延平面高频小功率三极管 (392.38K)
- SJ 1833-1981 3DK103型NPN硅外延平面小功率开关三极管 (158.68K)
- SJ 1848-1981 3CK130型PNP硅外延平面小功率开关三极管 (203.63K)
- SJ 1839-1981 3DK108型NPN硅外延平面小功率开关三极管 (164.45K)
- SJ 1838-1981 3DK29型NPN硅外延平面小功率开关三极管 (163.14K)
- YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法 (442.05K)
- YS/T 1059-2015 硅外延用三氯氢硅中总碳的测定 气相色谱法 (285.77K)
- YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法 (4.13M)
- GB/T 35308-2017 太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片 (539.07K)
- GB/T 36646-2018 制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备 (1.40M)
- SJ/T 31111-1994 AMC-7811/21型桶式外延炉完好要求和检查评定方法 (120.90K)
- SJ 779-1974 3DD71型NPN硅外延平面低频大功率三极管 (173.96K)
- SJ 781-1974 3DD73型NPN硅外延平面低频大功率三极管 (280.38K)
- SJ 2376-1983 3CD647型PNP硅外延平面低频大功率三极管 (176.17K)
- GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 (204.11K)
- GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 (211.33K)
- SJ 1827-1981 3DK6型NPN硅外延平面小功率开关三极管 (162.13K)
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