- GB/T 16480.1-1996 金属钇及氧化钇化学分析方法 氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化铕、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱和氧化镥量的测定 (166.00K)
- GB/T 8762.8-2000 氧化铕化学分析方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定氧化铕中氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱、氧化镥和 (249.33K)
- GB/T 18115.7-2000 稀土氧化物化学分析方法 电感耦合等离子体发射光谱法测定氧化铽中氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化铕、氧化钆、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱、氧化镥 (187.17K)
- GB/T 18116.1-2000 氧化钇铕化学分析方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定氧化钇铕中氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱和氧 (236.03K)
- GB/T 16484.3-1996 氯化稀土、碳酸稀土化学分析方法 氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化铕和氧化钇量的测定 (109.49K)
- YS/T 572-2007 工业氧化铍 (367.12K)
- SN/T 0829-1999 出口镁砂中的氧化镁、氧化硅、氧化钙、氧化铁、氧化铝、氧化锰、氧化钛的测定 X射线荧光光谱法 (5.39M)
- GB/T 11074.2-1989 氧化钐化学分析方法 发射光谱法测定氧化镨、氧化钕、氧化铕、氧化钆和氧化钇量(二) (108.58K)
- GB/T 11074.1-1989 氧化钐化学分析方法 发射光谱法测定氧化镨、氧化钕、氧化铕、氧化钆和氧化钇量(一) (90.79K)
- GB/T 8762.7-1988 荧光级氧化铕中氧化铈、氧化镨、氧化钐、氧化钆和氧化镝量测定 化学光谱和直接光谱法 (169.04K)
- GB/T 15917.1-1995 金属镝及氧化镝化学分析方法 发射光谱法测定氧化钆、氧化铖、氧化钬、氧化铒和氧化钇量 (98.42K)
- SN/T 1097-2002 出口磷矿石中五氧化二磷、氧化钙、三氧化二铁、氧化铝、氧化镁、二氧化硅和氧化钾的X-射线荧光光谱测定方法 (115.26K)
- SN/T 0481.10-2011 出口矾土检验方法 第10部分:二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、氧化钾、五氧化二磷和二氧化钛的测定 X射线荧光光谱法 (2.82M)
- SN/T 2949-2011 出口滑石中二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁的测定 (1.92M)
- YS/T 572-2006 工业纯氧化铍粉末技术条件 (1.92M)
- GB/T 5598-2015 氧化铍瓷导热系数测定方法 (2.50M)
- GB/T 3135-1982 工业纯氧化铍粉末技术条件 (264.78K)
- GB/T 5598-1985 氧化铍瓷导热系数测定方法 (179.51K)
- SJ 20867-2003 电子陶瓷用氧化铍粉体材料规范 (167.63K)
- GB/T 8762.6-1988 荧光级氧化铕中氧化铅、氧化镍、氧化铁和氧化铜量测定 发射光谱法 (88.16K)
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