jbt4009

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jbt40091 范围
本标准规定了以超声探头与被检物直接接触的方式进行纵波直射探伤时应遵守的-般规则。
以接触式超声脉冲回波法进行纵波直射探伤时，通常采用单压电晶片的探头发射高频超声波脉冲，
通过适当的耦合剂垂直地射入被检验材料。当材料内部有-反射体（包括缺陷及其它能反射超声的物体）
时，超声能量便从该处反射回来，被探头接收，转变为电脉冲信号，经电子仪器放大后在荧光屏上以脉
冲波形式显示出来。根据反射回波的有无、回波的幅度及出现回波的范围，可判断反射体的有无、深度
位置和大校根据底波减弱的程度，也可判断缺陷和材质衰减情况。
注：脉冲回波法只能探测出能将超声能量反射至探头的那部分反射体或缺陷的面积，因此，在某些情况下，被检物
内部虽有-较大缺陷，如其主要平面并不与超声波束垂直，反射波幅度就很低，因而不能准确判断其真实尺寸。
2 术语
本标准采用下列定义。
2. 1 AVG曲线
把垂直于超声波声束的圆形平面缺陷当作反射源，对应反射源各种大小，在正交坐标的横轴上表示
晶片到反射源的距离，并在纵轴上显示出相对反射高度，通常以缺陷波高F与无缺陷部位底波高度BG
之比的分贝（dB）数表示。这就称为AVG曲线图，亦称DGS曲线图。
2. 2 距离幅度曲线
在使用-定的频率和晶片直径及规定的探伤灵敏度情况下，测得某个反射体在不同距离时产生回波
的高度变化所构成的曲线，亦称DAC曲线。