固相合成法制备ZrW2O8陶瓷及其电学行为研究

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ZrW2O8 ceramics were prepaed by the solid state reaction. The planned composition was an atomic ratio of m（W） ： m（Zr）=2.1 ： 1. The structure and morphology characterized by X-ray diffraction （XRD） and scanning electron microscopy （SEM） respectively. The curves of ac susceptibility as a function of temperature was measured by physical properties measurement system （PPMS）. The curve of susceptibility vs temperature shows critical peak near the temperature of phase transition of tungsten trioxide.按Zr和W的原子比为1：2．1，通过固相反应技术，在1200℃加热24h，然后在冰水中快速冷却，得到立方晶相的ZrW2O8产物，XRD分析表明产物的纯度很高，基本上没有杂项，对样品的电学性能进行了测试，用物性测量系统PPMS测量了在T=39800A／m下样品的磁化率（M）随温度的变化，经过分析表明，样品在15和250K左右出现的磁化率明显变化和WO3的相转变温度吻合。