紫外可见分光光度计波长示值测量结果的不确定度评定

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1.1 测量依据JJG178-2007(紫外、可见、近红外分光光度计》。

1I3 测量标准氧化钬滤光片，吸收峰定值不确定度：U0.3nm k2.09，干涉滤光片，吸收峰定值不确定度：UI.0nm k2.09。

1.4 被测对象取常规的紫外、可见分光光度计(以下简称分光光度计)。

1.5 测量过程将氧化钬滤光片，置人分光光度计样品室内，对最近-次送检定值，在紫外、可见区大致均布，且好找的吸收峰(如2012年送检的实际值为638.0nm、536.4nm、445.5rim、360.9rim和 279.4nm)，进行校正基线后的找吸收峰(透射比最小点)测量，每-吸收峰测量三次，三次测量结果的平均值 ，与该吸收峰波长实际 s之差，即为分光光度计的波长示值误差△ 。

2 建立数学模型数学模型：Ahh-hs因为各分量相互独立不相关，据传播定律：U (Ah)C，U2( )C2，u (hs)灵敏系数：C，OAhlOkl C：OAM0ks-l 。

3 输入量的不确定度来源u( )--分光光度计波长示值测量不重复性；u( s)--氧化钬滤光片吸收峰波长定值的不确定度。

4 输入量标准不确定度的评定4.1 输入量 标准不确定度 U( )的评定输入量 的不确定度主要来源于分光光度计波长测量的不重复性，可以通过连续测量得到测量列，采用A类方法进行评定。

在规程规定的环境条件下，按规程规定的测量方法和重复性要求。

1)对光栅型仪器，选-台常规的分光光度计～氧化钬玻璃置入该分光光度计样品室内，对其536.4nm吸收峰进行找谷点的测量(即在找透射比的最小点的波长)。当使用氧化钬滤光片时，对-台可见分光光度计，用氧化钬滤光片，进行连续测量 l0次 ，得到3组不同波长测量列，其测量列如表 1：表 1 536.4nm吸收峰测量列该波长单次实验标准偏差s /： 。. m再取二台常规的分光光度计，仍在氧化钬玻璃的536.4rim吸收峰，且该三台分光光度计均分别在氧化钬玻璃的445.5nm和279.4nm吸收峰，连续测量 10次，共得 8组测量列，每组测量列分别按上述方法得到单次实验标准偏差如表 2：表 2 ITI组(m9)单次实验标准偏差合并样本标准差为sr- -- SpVm' Sj 0.52nm实际检定时，是在重复性条件下连续测量3次，以3次的算术平均值作为测量结果，则Ul( )Sp/、/3-0.30nm2)对棱镜型仪器，当使用干涉滤光片时，对-台可见分光光度计，用干涉滤光片，连续测量 1O次，得到3组不同波长测量列，其中-组测量列为 451.8、452.0、451.6、451.4、451.3、451.5、451.6、451.3、451.4、451.5nm。

： . hi451.5nm - .。.22砌任意选取3台同类型可见分光光度计，每台分别用氧化钬滤光片的3个不同波长点，各在重复条件下连续测量 10次，共得到9组测量列，每组测量列分别按上述方法计算得到单次实验标准差如表 3所示。

表3 m组实验标准差计算结果 rimS2 0.52S5 0.74S8 0.70S3 0.63sf； 0.53s9 O.82表4 标准不确定度汇总表合并样本标准差为sp1y/ .耋Sj 。.67nm实际测量情况，在重复性条件下连续测量 3 (下转 16页)昌 盯O O 0 差准标验实民营科技2013耳第5期 科技论坛耐电压测试仪测量结果不确定度评定陈 雷 闵 璐f (齐齐哈尔市质量技术监督检验检测中心(计量所)，黑龙江 齐齐哈 尔 1610oo)摘 要：通过建立数学模型，对耐电压测试仪测量结果不确定度评定。

关键词：测量依据；测量方法；不确定度1 概述1.1 测量依据《JJG795-2004耐电压测试仪检定规程》。

2 数学模型AUU-U式中：AU-电压示值误差U-被测耐电压测试仪输出电压示值u -耐电压测试仪校验装置上所显示的实测值测量不定度的构成要素；主要要素如下：1)测量过程中环境条件的影响。

3)检定装置检定被检仪器过程中，重复性测量引起的不确定度分量。

3 输出量的标准不确定度的评定3.1 输出量标准不确定度 Ul(v)的评定输出量y的标准不确定度Ul(v)的来源主要是被测耐电压测试仪的输出电压的测量不重复引起，采用A类评定。

取-台耐电压测试仪，选择5kV输出电压值为例，在同-条件下连续对耐电压测试仪输出电压测量10次，得到-组测量列为5.048、5.04 5、5.04 3、.5.04 0、5.04 1、5.039、5-040、5.047、5-042、5.04 7kV。

： ：5.043(kV) 平均值：v n lU单次测量值的标准偏差：s：、/；耋 鲁 × o%-o.。s(kV)3.2 测量方法采用直接测量法，测量环境恒温好，电网稳定因此环境影响和电源稳定度的影响可以忽略不计。主要由以下两方面引入测量的标准不确定度由B类方法进行评定3.2.1 输入量校验装置不确定度 u2(V)的评定输入量校验装置不确定度来源主要由耐电压测试仪校验装置误差引入的标准不确定度，采用B类方法进行评定。

标准耐电压测试仪校验装置经上级检定合格后，上级给出测量结果不确定度为 U 0.57% k2，当被测耐电压测试仪在 5kV时，测量点上标准耐电压测试校验装置的标准不确定度为U2(V )：丁0.57%5kV0.014kv3.2.2 标准耐电压校验的准确度等级的影响标准器准确度等级为0.2级，在测量5kV时电压值时，按正态分布其相对不确定度为：12(V：) o.o058kV3.2.3 合成标准不确定度I/2(V -V1/2(V )u2(v2)-V(o.o14)(0.0058)0.0151kV估计其可靠性为90%，自由度保守估计为v504 合成标准不确定度的评定 u (V)U2N(V)-u21(V)u2(V)0.0030 0.0150.000234kV即：u (V)0.015kV用相对标准不确定度表示；u ： 堡 ×100%：0.30%5 相对扩展不确定度取置信概率P95%，k2则U95 PFk·u2x0.30%O.60%(上接15页)次，以后 3次测量算术平均值为测量结果，则可得到 u ( )- l 0.39nm。

、/34.2 输入量 标准不确定度 u2(X )的评定1)输入量 不确定度主要来源于吸收峰波长定值的不确定度。上级检定机构给出的定值不确定度氧化钬滤光片 U0.3nm k2.09，采用 B类评定方法，则：Ul( )0.32.090.14nm2)输入量 不确定度主要来源于吸收峰波长定值的不确定度。上级检定机构给出的定值不确定度干涉钬滤光片UI.0nm k2.09，采用 B类评定方法，则：U2( )1.02.090.48nm5 合成标准不确定度的评定5.1 标准不确定度汇总表输入量标准不确定度汇总于表4。

5.2 合成标准不确定度的计算氧化钬滤光片uc2(AX)Cl u1 ( )C2 11 (ks)U (Ak)v/0.3920.4820.62nm0.33nm干涉滤光片u (AX)：C。 u22( )C2 1/(x )u (△ )：、/ r0.62nm0.62nm6 扩展不确定度评定氧化钬滤光片扩展不确定度 U2x0.330.66nm k2干涉钬滤光片扩展不确定度 U2x0.621.20nm k2